随着中国光通信产业的持续发展，对多芯高密度连接器（MPO、MT 等）、FA 光纤阵列芯间距以及 V 槽（V-Groove）基板间距等关键尺寸的检测要求不断提高。传统测量方式在精度和稳定性方面已难以满足当前需求。

本设备可实现 0.1 μm 以下的高重复精度自动测量，能够有效解决上述测量难题。

通过将本设备应用于生产与检测环节，可显著提升光纤连接的装配精度与一致性。

该设备适用于光通信行业及半导体等高精度制造领域，也可广泛应用于研发、品质管理及量产检测等场景。