厉害了！隐藏性结构产品的测量大难题可以这样解决...

提升产品质量，

应该让产品更有信服力！

一份经过全面检测得出的“健康报告”，

或许可以了却后顾之忧。

但问题是，使用传统的测量方法，

很多产品隐藏性的结构数据

只有将零件通过费时的层层破坏才能获得。

比如下面的产品...

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只有将零件层层破坏方才能测量隐藏性结构

有没有一双可以看透万物的“慧眼”？

有没有一种测量方法，针对隐藏性的结构产品，不需要破坏产品即可获得精确的结果呢？

答案是肯定的！近年来，工业CT凭借计算机断层成像技术，能在对检测物体无损伤条件下，以二维断层图像或三维立体图像的形式，清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、构成及缺损状况，被誉为当今最佳无损检测和无损评估技术。

德国蔡司的工业计算机断层扫描系统正是该技术的引领者，蔡司工业CT测量机METROTOM实现了锥束X射线断层扫描与坐标测量技术出色的融合，有效取代传统复杂耗时的检测方式，解决产品难以触及与隐藏部位的尺寸及形位公差测量、孔隙率分析、装配检验、模具修改、逆向工程等业界应用难题。

来了解先进的蔡司METROTOM坐标测量机

蔡司METROTOM测量机将在4月17日-21日的北京CIMT展会上隆重亮相，这也是全新的工业CT无损测量技术首次在亚洲展出。

蔡司METROTOM测量机

★ 亮点抢先知：

蔡司METROTOM通过采用坐标测量机关键高精度转台及导轨部件、核心的坐标测量控制技术、专利的坐标测量机CAA误差补偿技术、专利的几何校正技术、完善的量值溯源系统等实现了CT与三坐标测量机的完美融合（专利），确保长期可追溯性的测量精度。

1. 工业CT测量技术将无损分析维度由二维提升至三维，结合先进的锥束X射线断层扫描及智能控制技术，实现扫描数据的全面可视化及操作的高度简易化；

2. 满足常规无损缺陷分析要求的同时，高精度的机械结构、专利的校准方法及符合权威标准的可追溯性测量精度确保测量的高精准；

3. 更高的射线管功率结合优化的软件算法实现更出色的图像质量及更高的扫描效率；

4. 高达1500mm的焦点探测器距离结合全新的大体积CT视场拓展扫描技术，使得该系统具有极强的多样化应用适用性；

5. 结合多样化的先进软件平台，得以将无损分析应用延伸至全尺寸量测、高级缺陷分析、齿轮量测、逆向工程、模具修改、质量数据管理等应用领域。

新一代工业CT测量机作为解决复杂疑难质量问题的有效手段，持续的科技改进使得系统整体性能得到更高的提升，无缝对接塑料工程、铝压铸、汽车、电子、精密机械及科研检测等行业需求。

利用 ZEISS METROTOM 轻松完成测量任务

测量与检验整体部件

在利用传统测量机测量时，如下图所示此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得，而使用ZEISS METROTOM 工业计算机断层扫描测量系统即可轻松完成。

轻松且精确地进行多样化特征检测

如下图所示的连接器的测量，使用ZEISS METROTOM 可一次扫描海量的零部件特征，且这些测量结果非常精确，具可追溯性。测量时间也相比接触式测量方法显著缩短。

更多蔡司先进测量方案尽在CIMT2017

德国蔡司具备170年光学与工业测量专家级经验，拥有众多硬件与软件技术专利，深厚的技术底蕴及创新能力得到业界的广泛认可。在CIMT2017展会上将展出众多测量方案。

第十五届中国国际机床展览会（CIMT 2017）

时间：2017年4月17日-4月22日

地点：北京中国国际展览中心新馆

蔡司工业测量展位号：E2-201

1.动力总成一站式检测方案

2.高精度轮廓形状计量方案

3.自动化检测方案单元

4.航空动力部件高精度测量方案

5.工业CT无损测量技术

6.三维光学扫描检测系统

7.多功能复合式测量技术

8.一键式视像测量技术

9.智慧软件方案

10.显微镜材料分析技术

11.增值附件方案